FilmTek 2000SE光譜型(xíng)橢偏儀

簡要(yào)描述：FilmTek 2000SE光譜(pǔ)型橢偏(piān)儀以非(fēi)常(cháng)低的成本為薄(báo)膜應(yīng)用提供了(liǎo)的測量(liáng)性能和(hé)速度。FilmTek SE提供(gōng)了自動(dòng)測量(liáng)薄膜(mó)厚(hòu)度，折射(shè)率和消光係(xì)數(shù)的(dí)功(gōng)能(néng)，非常適合(hé)學術(shù)和(hé)研(yán)發。

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更(gēng)新時間：2019-02-01
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詳細介紹

價格區(qū)間	麵議	產地類(lèi)別	進(jìn)口(kǒu)

Measurement Features	FilmTek™ 2000SE / 3000SE
Index of Refraction折(zhē)射率 (at 2µm thickness)	±0.0002
Thickness Measurement Range 膜(mó)厚範(fàn)圍	1Å-200µm
Maximum Spectral Range (nm) 大(dà)光譜範圍(wéi)	190-1700
Standard Spectral Range (nm) 標準(zhǔn)光(guāng)譜範(fàn)圍	240-1000
Reflection 反(fǎn)射	Yes
Transmission 透射	Yes (3000)
Spectroscopic Ellipsometry 光譜橢圓(yuán)分析法	Yes
Power Spectral Density	Yes
Multi-angle Measurements (DPSD)	Yes
TE & TM Components of Index	No
Multi-layer thickness	Yes
Index of Refraction	Yes
Extinction (absorption) Coefficient	Yes
Energy band gap	Yes
Composition	Yes
Crystallinity	Yes
Inhomogeneous Layers	Yes
Surface Roughness	Yes

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FilmTek 2000SE光譜型(xíng)橢偏儀

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