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NanoSystem NVM-6000P非接觸(chù)式(shì)3D表(biǎo)麵(miàn)測(cè)量係統(tǒng)用(yòng)於PCB基(jī)板表(biǎo)麵形貌的測量(liáng)。 基板(bǎn)上(shàng)的(dí)Via Hole，Pad形狀(zhuàng)，pattern形(xíng)貌(mào)和表麵(miàn)形貌等11個項(xiàng)目(mù)可以進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量。 在高速(sù)測量下(xià)仍具有優秀的(dí)重(zhòng)復性(xìng)和準確性(xìng)，支持(chí)用(yòng)戶設定測量條(tiáo)件和(hé)測(cè)量(liáng)數(shù)據自動(dòng)保(bǎo)存及(jí)分析功(gōng)能(néng)。
Nanosystem NVF-2700 非(fēi)接觸(chù)式3D輪廓儀，通過非接(jiē)觸式的方法對(duì)0.1nm-270nm的(dí)3維表麵形貌進行高(gāo)進(jìn)度和(hé)高(gāo)速測(cè)量(liáng)。利用(yòng)物鏡轉(zhuǎn)台可(kě)方(fāng)便的(dí)進(jìn)行放(fàng)大(dà)倍數的(dí)轉(zhuǎn)換(huàn)。使用(yòng)拼接功能(néng)可分析寬(kuān)廣的(dí)表(biǎo)麵。
Nanosystem NV-2400非接觸(chù)式(shì)3D輪廓儀(yí)通(tōng)過非接(jiē)觸式(shì)的(dí)方法對0.1nm-270nm的(dí)3維表(biǎo)麵形(xíng)貌進行高(gāo)進(jìn)度(dù)和高速測量。利(lì)用(yòng)物(wù)鏡轉台可(kě)方便的進行放大倍(bèi)數(shù)的轉(zhuǎn)換(huàn)。使用(yòng)拼接(jiē)功(gōng)能可分析寬廣的(dí)表麵(miàn)。
Nanosystem NV-1000白(bái)光(guāng)幹涉(shè)儀(yí)是利用白光(guāng)幹(gān)涉(shè)特性來進行表麵形貌(mào)的測量，它結合了典(diǎn)型(xíng)的WSI非(fēi)常高的(dí)垂(chuí)直(zhí)分辨(biàn)率和(hé)一(yī)個非常(cháng)大(dà)的麵(miàn)積(jī)高(gāo)達21.7毫(háo)米x16.3毫米。這使得高精(jīng)度(dù)和(hé)大麵積(jī)快速測量成為可能，而無需縫(féng)合。
NanoSystem CS-2000氣缸(gāng)內(nèi)壁表麵(miàn)形(xíng)貌(mào)儀結(jié)合(hé)了無損分析(xī)性(xìng)能, 操(cāo)作(zuò)便(biàn)利(lì)。除了評估(gū)ISO粗(cū)糙度值(zhí), 采用白光幹(gān)涉(shè)測(cè)量(liáng)技術之外(wài), 這(zhè)款緊湊型係統(tǒng)還可(kě)以(yǐ)測量(liáng)納(nà)米尺(chǐ)度(dù)粗糙度, 亞納(nà)米分(fēn)辨率和生(shēng)產水平能(néng)力的(dí)三(sān)維(wéi)表(biǎo)麵(miàn)形貌。
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