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一(yī)片透(tòu)明塑料，透光率92%，霧(wù)度0.8%，和(hé)透(tòu)光(guāng)率(shuài)90%，霧度5%的同(tóng)材質(zhì)產品(pǐn)，肉(ròu)眼幾(jī)乎(hū)看(kàn)不(bù)出區(qū)別，但在下遊(yóu)應用中卻可能(néng)意(yì)味著合格與(yǔ)報廢(fèi)的分(fēn)界綫(xiàn)。霧(wù)度計的存(cún)在，就是為了讓這條(tiáo)肉眼不(bù)可見的分界綫(xiàn)變(biàn)得精(jīng)確(què)，可重復，可追溯(sù)。而(ér)這一切的前(qián)提，是嚴(yán)格(gé)...
鐵電測試儀是一種專門(mén)用於(yú)測量鐵電(diàn)材(cái)料的(dí)儀(yí)器(qì)，這(zhè)些(xiē)材(cái)料(liào)在一定(dìng)條件(jiàn)下會(huì)表現(xiàn)出鐵電效(xiào)應(yīng)。鐵電測試儀(yí)可以幫(bāng)助(zhù)科(kē)學家和(hé)研究(jiū)人(rén)員了解(jiě)鐵(tiě)電(diàn)材(cái)料的性(xìng)質(zhì)和(hé)行(háng)為(wéi)，從(cóng)而(ér)進一(yī)步探(tàn)索和發展(zhǎn)相關的(dí)技(jì)術應用。鐵(tiě)電測試儀通常(cháng)由(yóu)以(yǐ)下幾(jī)個(gè)主(zhǔ)要部分(fēn)組(zǔ)成：1.電源部(bù)分：提供(gōng)測(cè)試(shì)所(suǒ)...
薄膜(mó)測(cè)厚儀是一種用於(yú)測(cè)量(liáng)薄膜厚度(dù)的精(jīng)密儀(yí)器，廣泛應(yīng)用於(yú)半導體，電(diàn)子，光(guāng)學(xué)，食品(pǐn)，化(huà)工(gōng)等(děng)領域。該儀器可以(yǐ)測量(liáng)各種(zhǒng)材(cái)質(zhì)的薄膜厚(hòu)度(dù)，如金(jīn)屬，氧(yǎng)化物，氮化物(wù)，碳化(huà)物，半導體等。薄膜(mó)測厚儀(yí)的主要(yào)組(zǔ)成部(bù)分包(bāo)括傳感器(qì)，測(cè)量(liáng)係(xì)統(tǒng)和顯示器。傳感器是(shì)測厚(hòu)儀(yí)的(dí)核...
熱(rè)激勵去極化電(diàn)流(liú)（thermallystimulateddepolarizationcurrents,簡(jiǎn)寫為TSDC或TSC）是電(diàn)介(jiè)質(zhì)材料在受熱過程中建立(lì)極化態(tài)或(huò)解除極化態時(shí)所產生(shēng)的短(duǎn)路(lù)電流(liú)。基(jī)本方(fāng)法是(shì)將試樣夾在兩(liǎng)電極(jí)之間，加(jiā)熱到(dào)一定溫度(dù)使(shǐ)...
鐵電(diàn)測(cè)試(shì)儀是一種用於測量(liáng)材(cái)料(liào)鐵電(diàn)性(xìng)質(zhì)的設備(bèi)。鐵電性質(zhì)是(shì)指某(mǒu)些特殊材料(liào)在外(wài)加(jiā)電(diàn)場(cháng)下(xià)會發生(shēng)可逆(nì)的(dí)自(zì)發極(jí)化(huà)現(xiàn)象。這(zhè)種材料(liào)具有(yǒu)許多(duō)重要(yào)應(yīng)用(yòng)，例如壓(yā)電器(qì)件(jiàn)，存儲器和(hé)傳感(gǎn)器等。鐵電(diàn)測(cè)試儀(yí)通(tōng)常(cháng)由以下(xià)幾(jī)個主要組成(chéng)部分組(zǔ)成：1.供應(yīng)係統：提供穩定(dìng)而(ér)精(jīng)確(què)的(dí)直流...
測色(sè)儀(yí)是一種(zhǒng)用(yòng)於測量(liáng)物體(tǐ)顏色(sè)的儀器。它通過檢測(cè)物體反射(shè)，透(tòu)射(shè)或(huò)發射(shè)的(dí)光譜(pǔ)數(shù)據，然後根據(jù)這些(xiē)數(shù)據(jù)計算(suàn)出物體的顏(yán)色數值(zhí)。測(cè)色(sè)儀通常(cháng)包括以下幾個主要部分：1.光源：提(tí)供光綫(xiàn)以照亮待(dài)測試(shì)的樣品。常見(jiàn)的(dí)光源(yuán)有白(bái)熾燈，熒光燈和(hé)LED等。2.探(tàn)頭：與(yǔ)待(dài)測(cè)...
一(yī)，薄膜測(cè)厚(hòu)儀(yí)的基本原理(lǐ)薄膜測厚儀主(zhǔ)要是利(lì)用光學幹涉(shè)法(fǎ)，即將(jiāng)被測物(wù)體與參考(kǎo)麵(miàn)之間形成(chéng)等(děng)距(jù)空氣(qì)隙，當入射(shè)光在空氣和物(wù)體表麵(miàn)之間反(fǎn)彈時產生(shēng)兩(liǎng)束(shù)反(fǎn)射光，在相遇處會發(fā)生(shēng)疊(dié)加(jiā)幹(gān)涉現象(xiàng)。通過檢測(cè)幹(gān)涉條(tiáo)紋(wén)的數量(liáng)來(lái)確定光路(lù)差，從而計算出(chū)被測(cè)物體(tǐ)的厚(hòu)度。二(èr)，...
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