高電場(cháng)介(jiè)電，損耗，漏電(diàn)流(liú)測試係(xì)統(tǒng)測試(shì)原理(lǐ)

係統由工控機發(fā)出指(zhǐ)令，單片(piàn)機(jī)控(kòng)製FPGA發(fā)出測量波(bō)形，FPGA一(yī)路信號控製(zhì)不(bù)同頻率(shuài)幅(fú)值(zhí)的信號(hào)，由高壓(yā)放(fàng)大器對電壓進行放大後(hòu)，施(shī)加在(zài)樣品(pǐn)上，另一(yī)路施(shī)加在鎖相放大器作為參(cān)考(kǎo)信號(hào)，不同(tóng)頻率幅值(zhí)的高壓信號加載(zǎi)樣(yàng)品(pǐn)上，采(cǎi)集後(hòu)的(dí)信號(hào)，再(zài)回(huí)傳(chuán)FPGA測(cè)試(shì)板卡(qiǎ)
。測量的數據再由單(dān)片機回(huí)傳(chuán)工(gōng)控(kòng)機進行數據處(chǔ)理，實(shí)現從低頻到高(gāo)頻(pín)信號的(dí)輸(shū)出與測(cè)量(liáng)
。

係統使(shǐ)用真(zhēn)正的(dí) AC DFR（介(jiè)電(diàn)頻(pín)率(shuài)響應），保持出色(sè)的準(zhǔn)確性(xìng)和(hé)提(tí)供可靠數據(jù)的能力(lì)，可在(zài)高(gāo)幹擾環(huán)境(jìng)中(zhōng)獲(huò)得可靠的(dí)測試結(jié)果
。 該(gāi)軟件使測試既簡單又(yòu)快捷，它可(kě)在(zài)進行不同溫度，頻(pín)率下測量材(cái)料的介(jiè)電常(cháng)數及介質損(sǔn)耗(hào)因(yīn)數
。

係統可以在任意電壓(yā)激(jī)勵(lì)下的(dí)介(jiè)電響(xiǎng)應測試根據(jù)需要(yào)自定義輸(shū)出任(rèn)意(yì)電壓波形(xíng)激勵(lì)，滿(mǎn)足對(duì)不(bù)同條(tiáo)件(jiàn)下不同絕(jué)緣(yuán)材料不同(tóng)方(fāng)麵的測(cè)試需求，更好地(dì)適應(yīng)用(yòng)戶(hù)需(xū)求(qiú)
。

對被(bèi)測信號(hào)進行(háng)調(tiáo)整(zhěng)的(dí)信號源(yuán)，由(yóu)鎖相放(fàng)大器的(dí)信號輸(shū)出(chū)端提供，采(cǎi)用內(nèi)部(bù)參考(kǎo)模式，這(zhè)種(zhǒng)模式優(yōu)於(yú)鎖相放大器(qì)對直(zhí)接可以獲(huò)取(qǔ)的(dí)參考信(xìn)號的(dí)幅(fú)度及相位，測(cè)量(liáng)精度(dù)更高
。數(shù)字鎖相(xiāng)放(fàng)大(dà)器(qì)不會由(yóu)於算(suàn)法計算而引入(rù)或增(zēng)加噪聲(shēng)，並(bìng)且基(jī)本(běn)不受外(wài)界(jiè)環境的幹擾
。

高電場介電，損耗，漏(lòu)電(diàn)流(liú)測試(shì)係(xì)統技(jì)術規(guī)格